Oferta/przyrządy - AWK C

ANALIZATOR AWK C Urządzenie do pomiaru uziarnienia różnych materiałów
- Przeznaczenie	- Charakterystyka
- Metoda pomiaru	- Kompletacja
- Sposób pomiaru	- Artykuły
- Schemat analizatora	- Galeria zdjęć

- PRZEZNACZENIE:

Pomiar jednowymiarowy
Do pomiaru w warunkach laboratoryjnych uziarnienia materiałów sypkich np. surowców mineralnych (drobnych kruszyw, żwiru, grubych piasków) węgla, nasion roślin oraz granulatów spożywczych i tworzyw sztucznych) od 0.3 do 31,5 mm.
Do pełnej symulacji pomiarów według sit mechanicznych

- METODA POMIARU:

Przyrząd składa się z najnowszej klasy optycznego przyrządu pomiarowego, który mierzy przelatującą przez przestrzeń pomiarową cząstkę.
Strumień promieniowania podczerwonego lub laserowego w optycznym przyrządzie pomiarowym jest rozpraszany przez przelatujące ziarna. Po pomiarze zbiór ziaren jest kalibrowany (przeliczany) na 256 klas wymiarowych.

- SPOSÓB POMIARU:

Analizator AWK C jest wyposażony w elektroniczny blok pomiarowy [1], do którego podłączony jest tor pomiarowy wielkości cząstek.

Elektroniczny blok pomiarowy [1] jest podłączony do komputera [2].

Proces pomiarowy sterowany jest automatycznie po wprowadzeniu danych z klawiatury komputera [3].

Układ dozujący składa się z dozownika [4] z drgającą rynną [5].

Do rynny [5] cząstki podawane są z lejka zasypowego [6]. Wielkość lejka i szerokość rynny dobiera się zależnie od wielkości przesypywanych ziaren.

Pomiędzy rynną dozownika, a czujnikiem pomiarowym znajduje się kominek [9], którego zadaniem jest uporządkowanie lotu ziaren o różnych kształtach.

Przez kominek [9] zasysane jest powietrze przez sprężarkę [8], która załączana jest za pomocą przełącznika sterującego [10].

Dozownik [4] przesypuje cząstki z lejka [6] do pojemnika [7] znajdującego się pod przyrządem. Po zakończonym pomiarze analizator automatycznie kończy dozowanie i opracowuje wyniki, które w pełni symulują pomiary według sit mechanicznych. 

 

Schemat analizatora AWK C

 - CHARAKTERYSTYKA:

 

 

-	zakres pomiarowy	0,3 - 31,5 mm
-	ilość klas pomiarowych	256
-	źródło światła	dioda Infrared lub dioda laserowa
-	zasilanie	230 V AC, 50 Hz
-	temperatura użytkowania	278 do 313 K
-	powierzchnia pomiarowa	2 500 mm2

 

- KOMPLETACJA:

 

 

-	elektroniczny blok pomiarowy AWK
-	sonda z kominkiem
-	szafka AWK ze wspomaganiem aerodynamicznym
-	dozownik z wymiennym lejkiem i rynną
-	zestaw kabli
-	komputer typu notebook
-	zestaw oprogramowania w w środowisku MS Windows

Dostarczamy kompletne, gotowe do użytku urządzenia i systemy pomiarowe. Jako producent zapewniamy pełne szkolenie, wsparcie techniczne oraz serwis gwarancyjny i pogwarancyjny.

 

-

ARTYKUŁY PDF:

 

Analizator AWK C - ulotka

 

 

 - GALERIA ZDJĘĆ PRODUKTU: